| Şəkil | KEY Hissəsi # / İstehsalçı | Təsvir / PDF | Miqdarı / RFQ |
|---|---|---|---|
 |
Texas Instruments |
IC REGISTERED BUFF 26BIT 96LFBGA. |
1740ədəd Stok |
 |
ON Semiconductor |
IC ARITHMETIC LOGIC 4BIT 20-DIP. |
1732ədəd Stok |
 |
ON Semiconductor |
IC INVERTER COMP PR DUAL 14-DIP. |
1723ədəd Stok |
 |
Texas Instruments |
IC 17-BIT TTL/BTL XCVR 100-HLQFP. |
1716ədəd Stok |
 |
ON Semiconductor |
IC DRIVER RELAY DUAL 30V 8-DIP. |
10110ədəd Stok |
 |
Texas Instruments |
IC REGSTR BUFFER 28-56BIT 176BGA. |
10197ədəd Stok |
 |
Texas Instruments |
IC 25BIT CONFIG REG BUFF 96-BGA. |
10197ədəd Stok |
|
Texas Instruments |
IC CONFIG REG BUFF 28BIT 176-BGA. |
10197ədəd Stok |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC. |
10398ədəd Stok |
 |
Texas Instruments |
IC 10B ADDRSBL SCAN PORT 24TSSOP. |
11051ədəd Stok |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP. |
11193ədəd Stok |
 |
ON Semiconductor |
IC DRVR ECL QUAD 2.5V/3.3V 24QFN. |
11203ədəd Stok |
 |
ON Semiconductor |
IC DRV/RCV ECL QUAD DIFF 20TSSOP. |
11203ədəd Stok |
 |
Texas Instruments |
IC REGISTERED BUFFER 160-TFBGA. |
11216ədəd Stok |
|
Texas Instruments |
IC 25BIT CONFIG REG BUFF 96-BGA. |
11216ədəd Stok |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC. |
11260ədəd Stok |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC. |
11260ədəd Stok |
|
Texas Instruments |
IC EMBEDDED TEST BUS CTRL 24SOIC. |
12402ədəd Stok |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP. |
12789ədəd Stok |
|
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP. |
12880ədəd Stok |
Təsnifat səhifələri
- Məntiq - İxtisas məntiqi - Səhifə48
- Məntiq - İxtisas məntiqi - Səhifə49
- Məntiq - İxtisas məntiqi - Səhifə50
- Məntiq - İxtisas məntiqi - Səhifə51
- Məntiq - İxtisas məntiqi - Səhifə52
- Məntiq - İxtisas məntiqi - Səhifə53
- Məntiq - İxtisas məntiqi - Səhifə54
- Məntiq - İxtisas məntiqi - Səhifə55
- Məntiq - İxtisas məntiqi - Səhifə56
- Məntiq - İxtisas məntiqi - Səhifə57
success
选择你的位置