Hissə nömrəsi :
SN74BCT8245ADW
İstehsalçı :
Texas Instruments
Təsvir :
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
Məntiq növü :
Scan Test Device with Bus Transceivers
Təchizat gərginliyi :
4.5V ~ 5.5V
Əməliyyat temperaturu :
0°C ~ 70°C
Montaj növü :
Surface Mount
Paket / Case :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Təchizatçı cihaz paketi :
24-SOIC