Hissə nömrəsi :
SN74BCT8373ADWRG4
İstehsalçı :
Texas Instruments
Təsvir :
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Hissə Vəziyyəti :
Obsolete
Məntiq növü :
Scan Test Device with D-Type Latches
Təchizat gərginliyi :
4.5V ~ 5.5V
Əməliyyat temperaturu :
0°C ~ 70°C
Montaj növü :
Surface Mount
Paket / Case :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Təchizatçı cihaz paketi :
24-SOIC