Hissə nömrəsi :
SN74LVTH182512DGGR
İstehsalçı :
Texas Instruments
Təsvir :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Məntiq növü :
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Təchizat gərginliyi :
2.7V ~ 3.6V
Əməliyyat temperaturu :
-40°C ~ 85°C
Montaj növü :
Surface Mount
Paket / Case :
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Təchizatçı cihaz paketi :
64-TSSOP