Hissə nömrəsi :
SN74ABTH182652APM
İstehsalçı :
Texas Instruments
Təsvir :
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
Məntiq növü :
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Təchizat gərginliyi :
4.5V ~ 5.5V
Əməliyyat temperaturu :
-40°C ~ 85°C
Montaj növü :
Surface Mount
Təchizatçı cihaz paketi :
64-LQFP (10x10)