Hissə nömrəsi :
SN74ABT8646DWR
İstehsalçı :
Texas Instruments
Təsvir :
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Hissə Vəziyyəti :
Obsolete
Məntiq növü :
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Təchizat gərginliyi :
4.5V ~ 5.5V
Əməliyyat temperaturu :
-40°C ~ 85°C
Montaj növü :
Surface Mount
Paket / Case :
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Təchizatçı cihaz paketi :
28-SOIC