Texas Instruments - SN74BCT8240ANTG4

KEY Part #: K1320213

[6439ədəd Stok]


    Hissə nömrəsi:
    SN74BCT8240ANTG4
    İstehsalçı:
    Texas Instruments
    Ətraflı Təsviri:
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP.
    Manufacturer's standard lead time:
    Anbarda
    Raf ömrü:
    Bir il
    Chip From:
    Honq Konq
    RoHS:
    Ödəniş üsulu:
    Göndərmə yolu:
    Ailə Kateqoriyalarları:
    KEY Componentlər Co, LTD məhsul kateqoriyalarını təklif edən Elektron komponentlər distribyutorudur: İnterfeys - Xüsusi, Yaddaş - FPGA'lar üçün konfiqurasiya promsları, IC Çipləri, Məntiq - Paritet Yaradanlar və Dama, Quraşdırılmış - Mikroprosessorlar, Yaddaş, İnterfeys - kodlayıcılar, dekoderlər, çeviricilər and Xətti - analoq çarpanlar, bölücülər ...
    Rəqabətli üstünlük:
    Texas Instruments SN74BCT8240ANTG4 elektron komponentlərində ixtisaslaşmışıq. SN74BCT8240ANTG4 sifarişdən sonra 24 saat ərzində göndərilə bilər. SN74BCT8240ANTG4 üçün hər hansı bir tələbiniz varsa, buraya kotirovka üçün bir sorğu göndərin və ya bizə bir e-poçt göndərin: rfq@key-components.com
    GB-T-27922
    ISO-9001-2015
    ISO-13485
    ISO-14001
    ISO-28000-2007
    ISO-45001-2018

    SN74BCT8240ANTG4 Məhsul keyfiyyətləri

    Hissə nömrəsi : SN74BCT8240ANTG4
    İstehsalçı : Texas Instruments
    Təsvir : IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
    Seriya : 74BCT
    Hissə Vəziyyəti : Obsolete
    Məntiq növü : Scan Test Device with Inverting Buffers
    Təchizat gərginliyi : 4.5V ~ 5.5V
    Bitlərin sayı : 8
    Əməliyyat temperaturu : 0°C ~ 70°C
    Montaj növü : Through Hole
    Paket / Case : 24-DIP (0.300", 7.62mm)
    Təchizatçı cihaz paketi : 24-PDIP