Hissə nömrəsi :
SN74LVTH182646APM
İstehsalçı :
Texas Instruments
Təsvir :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Məntiq növü :
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Təchizat gərginliyi :
2.7V ~ 3.6V
Əməliyyat temperaturu :
-40°C ~ 85°C
Montaj növü :
Surface Mount
Təchizatçı cihaz paketi :
64-LQFP (10x10)